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簡要描述：鐵電壓電分析儀，薄膜陶瓷測試-行業(yè)專用儀器內(nèi)置完整的工控計(jì)算機(jī)主機(jī)、測試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，包括工控計(jì)算機(jī)主板、CPU（i3或以上）、RAM（8G或以上）、固態(tài)硬盤（250G或以上）、網(wǎng)卡、USB接口、VGA接口、預(yù)裝Windows7操作系統(tǒng)、功能材料電學(xué)綜合測試系統(tǒng)測試軟件等。
產(chǎn)品型號(hào)：Huace FE-3000廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2025-07-24訪 問 量：2515產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|
HuaceFE-3000是一款擴(kuò)展性高速型模塊化鐵電壓電分析儀，薄膜陶瓷測試，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
模塊化設(shè)計(jì)的HuaceFE-3000具有優(yōu)異的擴(kuò)展性。
FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測試；
MR模塊-磁阻和鐵性材料測試；
RX模塊-弛豫電流測試；
DR模塊-自放電測試。
鐵電壓電分析儀，薄膜陶瓷測試測試基本單元：包括內(nèi)置完整的專用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測試版路、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等，Windows 7 操作系統(tǒng)、鐵電分析儀專用測試軟件等。
FE模塊標(biāo)準(zhǔn)測試功能：
Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測試頻率（增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz）；
Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測試；
PUND 脈沖測試；
Fatigue 疲勞測試；
Retention 保持力；
Imprint 印跡；
Leakage current漏電流測試；
Thermo Measurement 變溫測試功能。
FE模塊可選測試功能：
C-V curve電容-電壓曲線；
Piezo Measurement壓電測試；
Pyroelectric Measurement熱釋電測試；
In-situ Compensation 原位補(bǔ)償；
DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能；
Impedance Measurement 阻抗測試
技術(shù)說明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV）；
電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；
最小脈沖寬度：50ns；
最小上升時(shí)間：10ns；
最大疲勞頻率：16MHz；
電流放大范圍：1pA～1A；
最大負(fù)荷電容：1nF；
輸出電流峰值：+/-1 A。
可擴(kuò)展部件：
高壓放大器、激光干涉儀、AFM、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái)、變溫塊體樣品盒、塊體變溫爐、薄膜e31測試平臺(tái)、超導(dǎo)磁體、PPMS、阻抗分析儀等。
MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測試，樣品上的電壓降通過精度高的四點(diǎn)測試。
RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測試能將材料的馳豫電流和漏電流分開，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流。
DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
由于測試條件非常接近實(shí)際情況，因此通過這種方式可容易地測試應(yīng)用于DRAM材料的合適性。
針對工業(yè)方面的應(yīng)用，TF Analyzer 3000提供了256個(gè)自動(dòng)測試的通道，大大擴(kuò)展了該儀器的測試功能。
以上所有的模塊可根據(jù)您的測試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。
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